產(chǎn)品資料
日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置
產(chǎn)品名稱: 日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置
產(chǎn)品型號(hào): RG-100PV
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置玻璃基板上薄膜的四探針法半自動(dòng)測(cè)量?jī)xXY軸機(jī)構(gòu)臺(tái)平面內(nèi)多點(diǎn)測(cè)量配備了均勻螺距或隨機(jī)螺距設(shè)置選擇以及2-D ??/ 3-D映射軟件。
日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置 的詳細(xì)介紹
日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
- 擴(kuò)散樣品硅基薄膜（LTPS等），IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 與化合物半導(dǎo)體有關(guān)的（GaAs，Epi，GaN，Epi，InP，Ga等）
- 其他（*請(qǐng)與我們聯(lián)系）
測(cè)量尺寸
大300 x 300毫米（選件;大500 x 500毫米）
測(cè)量范圍
[電阻（比電阻）] 1m至200Ω·cm
[片電阻] 1m至1,000kΩ/ sq（選件；?10MΩ/ sq）
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
- 擴(kuò)散樣品硅基薄膜（LTPS等），IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 與化合物半導(dǎo)體有關(guān)的（GaAs，Epi，GaN，Epi，InP，Ga等）
- 其他（*請(qǐng)與我們聯(lián)系）
測(cè)量尺寸
大300 x 300毫米（選件;大500 x 500毫米）
測(cè)量范圍
[電阻（比電阻）] 1m至200Ω·cm
[片電阻] 1m至1,000kΩ/ sq（選件；?10MΩ/ sq）
映射圖像
![半自動(dòng)類型<br />（多點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/2D%E8%A7%92%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B02.jpg)
![半自動(dòng)類型<br />（多點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/3D%E8%A7%92%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B02-640x561.jpg)
日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置
相關(guān)產(chǎn)品
產(chǎn)品目錄
-
分析儀器
- 污泥檢測(cè)儀
- 分光測(cè)計(jì)
- 鹽度計(jì)
- 計(jì)數(shù)器
- 糖度計(jì)
- 水位計(jì)
- 超聲波厚度計(jì)
- 測(cè)力計(jì)
- 振動(dòng)計(jì)
- 探測(cè)器
- 壓力調(diào)整器
- 水平儀
- 電阻率計(jì)
- 離心機(jī)
- 送料器
- 電位儀
- 膜厚計(jì)
- 電流表
- 數(shù)字秤
- 天平
- 水分儀
- 白度計(jì)
- 校準(zhǔn)器
- 質(zhì)構(gòu)儀
- 試驗(yàn)器
- 氣度儀
- 測(cè)試儀
- 分析儀
- 粘度計(jì)
- 光度計(jì)
- 科學(xué)機(jī)器
- 加壓容器
- 二氧化碳分析儀器
- 控制器
- 檢測(cè)套件
- 分析測(cè)定類
- 殘留檢測(cè)
- 粉體行業(yè)
- 化妝品行業(yè)
- 糧食行業(yè)
- 食品行業(yè)
- 水產(chǎn)行業(yè)
- 鋰電池行業(yè)
聯(lián)系我們
在線客服