電阻測(cè)量的定義-napson手持式電阻測(cè)量?jī)xEC-80P

通常，電阻（電阻）用于評(píng)估物質(zhì)或材料的電導(dǎo)率（導(dǎo)電性）。我認(rèn)為下面的Ω（Ohm）是電阻的評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)（許多人在“歐姆定律”中都記得它）。

電阻_（電阻）=Ω[讀數(shù)：歐姆]

⇒表示電流難易度的單位

R = V / I　* V =電壓，I =電流

由數(shù)字萬(wàn)用表（絕緣電阻表）測(cè)量的絕緣電阻也通常以Ω單位表示。

電阻單位還根據(jù)物質(zhì)或材料的形狀而適當(dāng)?shù)厥褂茫⑶腋鶕?jù)測(cè)量目標(biāo)而主要使用，因?yàn)榇嬖卺槍?duì)每個(gè)行業(yè)的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（例如，JIS）的電阻單位。關(guān)于電阻的表示法是不同的。

除了電阻[Ω]，我們的電阻測(cè)量系統(tǒng)還支持以下兩種類型的電阻測(cè)量單位：電阻[Ωcm]和薄層電阻[Ω/□]。

電阻=Ωcm[讀數(shù)：歐姆厘米]

*也稱為比電阻。

⇒物質(zhì)的“體積電阻值”

它主要用于表示較厚物體的電阻，例如硅片，大塊以及導(dǎo)電橡膠和塑料。

電阻：R的值由以下等式表示，其中ρ是電阻，L是導(dǎo)體的長(zhǎng)度，A是導(dǎo)體的截面積。

R =ρ×[L / A]

因此，電阻值ρ由下式表示。

ρ= V / I×[A / L]

*單位為Ωcm時(shí)，值為1 cm x 1 cm x 1 cm的體積。根據(jù)測(cè)量目標(biāo)的不同，它可能以Ωm（歐姆表）表示。

薄層電阻=Ω/□[讀數(shù)：歐姆標(biāo)準(zhǔn)平方]

*也稱為比電阻。

⇒物質(zhì)的“表面電阻值”

它主要用于表示片狀材料（例如薄膜和膜狀材料）的電阻。

一般而言，當(dāng)表示三維電導(dǎo)率時(shí)，電阻由下式表示。

R =ρ×L / A ＝ L / W×ρs

假設(shè)樣品的長(zhǎng)度：L和寬度：W是均勻的，則電阻：R和薄層電阻：ρs相等。

薄層電阻：ρs也可以表示為通過(guò)將電阻：ρ除以厚度：t得到的值。

日本napson手持式探針無(wú)損渦流法電阻測(cè)量?jī)x
只需觸摸手持式探頭即可測(cè)量電阻。
在電阻/薄層電阻測(cè)量模式之間輕松切換
使用JOG撥盤輕松設(shè)置測(cè)量條件
連接到連接器的可替換電阻測(cè)量探頭可支持多種電阻
（電阻探頭：多可以使用2 + PN判斷探頭）

日本napson手持式探針無(wú)損渦流法電阻測(cè)量?jī)x

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池材料相關(guān)（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
硅基外延，離子與
半導(dǎo)體相關(guān)的注入樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*請(qǐng)與我們聯(lián)系）

測(cè)量尺寸

無(wú)論樣品大小和形狀如何均可進(jìn)行測(cè)量（但是，大于20mmφ且表面平坦）

測(cè)量范圍

[電阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度500um）
[板電阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類型的總范圍）

*有關(guān)每種探頭類型的測(cè)量范圍，請(qǐng)參閱以下內(nèi)容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至
0.05Ω- cm）（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-??cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
（5）太陽(yáng)能晶片：5至500Ω/□（0。 2至15Ω-cm）